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【公告】114學年度國民小學一般智能資優學生及提早入學鑑定複選公告事項

壹、 試場分配表
請參閱附件場次及時間。

貳、 試務說明
一、 報到時間:4月26日 (週六) 。場次1 - 8:00;場次2 - 10:00;場次3 - 13:00。
二、 報到事項及家長接送地點:報到地點為光華國小光華樓穿堂。每場施測時間需約90分鐘,會由工作人員將貴子弟帶至指定試場,當日於光華國小課後照顧班甲班教室設有家長休息區,為維護施測品質,除指定休息區外,校園其他區域不開放民眾及陪考人員進行活動。
三、 攜帶物品:入場證及飲用水,請勿攜入包含電子錶在內之任何電子產品。
四、考生當日測量額溫超過37.5℃,需複測耳溫,耳溫超過38℃者,安排至預備試場。
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